Síküveg és fólia pontos vastagságának mérése
2022. április 18., hétfő, 06:00
Címkék: fólia Kvalix mérés méréstechnika szenzor szenzortechnika üveg
Az IMS5400 fehér fény interferométer IMP-TH70 érzékelője <1 nm felbontással méri az üveg és a fólia vastagságát. Az érzékelő 70 mm-es, vagyis mintegy kétszer akkora munkatávolságot, ezenkívül nagyobb dőlésszöget tesz lehetővé, mint a korábbi modellek. A passzív hűtés és az aktív hőmérséklet-kompenzáció rendkívül stabil mérési eredmények elérését teszi lehetővé ipari környezetben.
A Micro-Epsilon IMS5400 interferoMETER-hez elérhetővé vált az új IMP-TH70 érzékelő, amely 70 mm-es, vagyis mintegy kétszer akkora munkatávolság elérését teszi lehetővé, mint a korábbi modellek. Az új érzékelő ezenkívül kis, mindössze 5 µm átmérőjű fényfoltot generál, és ±4,5°-os anyagdőlésszöget is képes kezelni. Mindez még enyhén ívelt felületek esetében is stabil mérési eredményeket hoz létre.
Az interferoMETER termékcsoport a Micro-Epsilon legprecízebb optikai rendszere. Robusztus felépítését a gyártósorokon történő használatra tervezték. Az innovatív fehér fény interferométerek széles körű csatlakozási lehetőségeket kínálnak a különféle vezérlőrendszerekbe és gyártási programokba történő optimális integráláshoz.
Ezek közé tartoznak a digitális interfészek, például az Ethernet/EtherCAT, valamint az analóg kimenet. A vezérlő és az érzékelők teljes konfigurációja a megszokott módon a webes felületen keresztül történik. A webes kezelői felület jól felépített, és egyszerű beállítási és paraméterezési lehetőségeket kínál.
Magyarországi forgalmazó:
1044 Budapest, Íves út 10.
